The structure of planar defects and defect phases in Laves phase alloys and their influence on hydrogen storage properties

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Merzlikin, S. V.; Grünert, W.; Strunskus, T.; Witte, G.; Wachs, I. E.; Wöll, C. H.; Tolkachev, N. N.; Tkachenko, O. P.: Quantitative Tiefenprofilierung durch XPS – Ein neuer Ansatz in der Oberflächenanalyse realer Materialien. 49.Jahrestreffen Deutscher Katalytiker, DECHEMA, 2007, Weimar, Germany (2007)
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