Conference Paper
Zaefferer, S.; Stechmann, G.: Electron backscatter diffraction (EBSD) and electron channelling contrast imaging (ECCI) for the study of thin film solar cells. In: Tagungsband des EFDS Workshops “Morphologie und Mikrostruktur Dünner Schichten und deren Beeinflussung” (Ed.
Wetzig, K.). EFDS Workshop “Morphologie und Mikrostruktur Dünner Schichten und deren Beeinflussung”, Dresden, Germany, March 12, 2015. (2015)