Conference Paper
Kiener, D.; Jörg, T.; Rester, M.; Motz, C.; Dehm, G.: Conventional TEM Investigation of the FIB Damage in Copper. In: Proceeding 33rd Microscopy Conference, Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie, pp. 100 - 101. 33rd Microscopy Conference, Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie, Saarbrücken, Germany, September 02, 2007 - September 07, 2007. (2007)