Conference Paper
Rashkova, B.; Kothleitner, G.; Šturm, S.; Scheu, C.; Kutschej, K.; Mitterer, C.; Lazar, P.; Redinger, J.; Podloucky, R.; Dehm, G.: A Comparison of the Electronic Structure of N–K in TiN and VN using EELS and Ab-initio Calculations. In: Proceeding 33rd Microscopy Conference, Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie, pp. 414 - 415. Microscopy 33rd Conference, Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie, Saarbrücken, Germany, September 02, 2007 - September 07, 2007. (2007)