![© Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH © Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH](/3038844/header_image-1456235592.jpg?t=eyJ3aWR0aCI6ODQ4LCJmaWxlX2V4dGVuc2lvbiI6ImpwZyIsIm9ial9pZCI6MzAzODg0NH0%3D--1e5fd6b49dd378a21da3943ff2930666094a4b7a)
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Quantitative Tiefenprofilierung durch XPS – Ein neuer Ansatz in der Oberflächenanalyse realer Materialien. 49.Jahrestreffen Deutscher Katalytiker, DECHEMA, 2007, Weimar, Germany (2007)