![© Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH © Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH](/3039202/header_image-1456240392.jpg?t=eyJ3aWR0aCI6ODQ4LCJmaWxlX2V4dGVuc2lvbiI6ImpwZyIsIm9ial9pZCI6MzAzOTIwMn0%3D--07271ff972254e6249f4af4445012f1fcaf4075b)
Publications of Israel E. Wachs
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49 (43), pp. 8037 - 8041 (2010)
Anomalous surface compositions of stoichiometric mixed oxide compounds. Angewandte Chemie International Edition 2.
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Anomale Oberflächenzusammensetzung stöchiometrischer Mischoxid-Verbindungen. Angewandte Chemie Talk (1)
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Quantitative Tiefenprofilierung durch XPS – Ein neuer Ansatz in der Oberflächenanalyse realer Materialien. 49.Jahrestreffen Deutscher Katalytiker, DECHEMA, 2007, Weimar, Germany (2007)