![© Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH © Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH](/4288685/header_image-1642071912.jpg?t=eyJ3aWR0aCI6ODQ4LCJmaWxlX2V4dGVuc2lvbiI6ImpwZyIsIm9ial9pZCI6NDI4ODY4NX0%3D--660965333d86c8cb4c9fc78078f8b377ed117643)
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Quantitative Tiefenprofilierung durch XPS – Ein neuer Ansatz in der Oberflächenanalyse realer Materialien. 49.Jahrestreffen Deutscher Katalytiker, DECHEMA, 2007, Weimar, Germany (2007)