![© Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH © Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH](/3028581/header_image-1558517354.jpg?t=eyJ3aWR0aCI6ODQ4LCJmaWxlX2V4dGVuc2lvbiI6ImpwZyIsIm9ial9pZCI6MzAyODU4MX0%3D--4918b05dd0ccc7b8973775885546cc018f55ca4d)
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Quantitative Tiefenprofilierung durch XPS – Ein neuer Ansatz in der Oberflächenanalyse realer Materialien. 49.Jahrestreffen Deutscher Katalytiker, DECHEMA, 2007, Weimar, Germany (2007)