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Kelm, K.; Irsen, S. H.; Quandt, E.; Paninski, M.; Drevermann, A.; Schmitz, G. J.; Palm, M.; Stein, F.; Heilmaier, M.; Engberding, N. et al.; Saage, H.; Sturm, D.: Characterization of the microstructure of Al-rich TiAl-alloys by combined TEM imaging techniques. 33rd Conference of the DGE Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V., Saarbrücken, Germany (2007)
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