Publikationen von O. P. Tkachenko

Merzlikin, S. V.; Grünert, W.; Strunskus, T.; Witte, G.; Wachs, I. E.; Wöll, C. H.; Tolkachev, N. N.; Tkachenko, O. P.: Quantitative Tiefenprofilierung durch XPS – Ein neuer Ansatz in der Oberflächenanalyse realer Materialien. 49.Jahrestreffen Deutscher Katalytiker, DECHEMA, 2007, Weimar, Germany (2007)