Volkert, C. A.; Busch, S.; Heiland, B.; Dehm, G.: Transmission electron microscopy of fluorapatite-gelatine composite particles prepared using focused ion beam milling. Journal of Microscopy 214 (3), S. 208 - 212 (2004)
Max-Planck-Team erklärt Rissbildung während des Ladevorgangs und ebnet so den Weg zu sichereren und langlebigeren Batterien. Das Team veröffentlicht seine Ergebnisse im Wissenschaftsjournal Nature.