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Zeitschriftenartikel (1)

  1. 1.
    Zeitschriftenartikel
    Volkert, C. A.; Busch, S.; Heiland, B.; Dehm, G.: Transmission electron microscopy of fluorapatite-gelatine composite particles prepared using focused ion beam milling. Journal of Microscopy 214 (3), S. 208 - 212 (2004)

Konferenzbeitrag (1)

  1. 2.
    Konferenzbeitrag
    Dehm, G.; Legros, M.; Heiland, B.: In-situ TEM straining experiments of Al films on polyimide using a novel FIB design for specimen preparation. 10th Meeting on Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science, Maastricht, The Netherlands, 25. September 2005 - 30. September 2005. Journal of Materials Science 41 (14), S. 4484 - 4489 (2006)
 
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