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Ceguerra, A. V.; Breen, A. J.; Stephenson, L.; Felfer, P. J.; Araullo-Peters, V. J.; Liddicoat, P. V.; Cui, X. Y.; Yao, L.; Haley, D.; Moody, M. P. et al.; Gault, B.; Cairney, J. M.; Ringer, S. P.: The rise of computational techniques in atom probe microscopy. Current Opinion in Solid State and Materials Science 17 (5), S. 224 - 235 (2013)
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