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Zeitschriftenartikel (249)

  1. 241.
    Zeitschriftenartikel
    Dehm, G.; Ernst, F.; Mayer, J.; Möbus, G.; Müllejans, H.; Phillipp, F.; Scheu, C.; Rühle, M.: Transmission Electron Microscopy at the Max-Planck-Institut für Metallforschung. Zeitschrift für Metallkunde 87 (11), S. 898 - 910 (1996)
  2. 242.
    Zeitschriftenartikel
    Möbus, G.; Dehm, G.: Retrieval of Crystal Defect Structures from HREM Images by Simulated Evolution. II. Experimental Image Evaluation. Ultramicroscopy 65 (3-4), S. 217 - 228 (1996)
  3. 243.
    Zeitschriftenartikel
    Dehm, G.; Nadarzinski, K.; Ernst, F.; Rühle, M.: Quantification of Irradiation Damage Generated During HRTEM with 1250keV Electrons. Ultramicroscopy 63 (1), S. 49 - 55 (1996)
  4. 244.
    Zeitschriftenartikel
    Dehm, G.; Scheu, C.; Raj, R.; Rühle, M.: Growth, structure and interfaces of Cu and Cu/Ti thin films on (0001)alpha-Al2O3. Materials Science Forum 207-209 (1), S. 217 - 220 (1996)
  5. 245.
    Zeitschriftenartikel
    Dehm, G.; Raj, R.; Rühle, M.: Influence of Interfacial Layers on the Ultimate Shear Strength of Copper/Sapphire Interfaces. Materials Science Forum 207-209 (2), S. 597 - 600 (1996)
  6. 246.
    Zeitschriftenartikel
    Scheu, C.; Dehm, G.; Müllejans, H.; Rühle, M.: Electron Energy-Loss Spectroscopy at Cu/Al2O3 and Ti/Al2O3 Interfaces. Materials Science Forum 207-209 (1), S. 181 - 184 (1996)
  7. 247.
    Zeitschriftenartikel
    Möbus, G.; Schumann, E.; Dehm, G.; Rühle, M.: Measurement of Coherency States of Metal-Ceramic Interfaces by HRTEM Image Processing. Physica Status Solidi A 150 (1), S. 77 - 87 (1995)
  8. 248.
    Zeitschriftenartikel
    Dehm, G.; Rühle, M.; Ding, G.; Raj, R.: Growth and Structure of Copper Thin Films Deposited on (0001) Sapphire by Molecular Beam Epitaxy. Philosophical Magazine B-Physics of Condensed Matter Statistical Mechanics Electronic Optical and Magnetic Properties 71 (6), S. 1111 - 1124 (1995)
  9. 249.
    Zeitschriftenartikel
    Scheu, C.; Dehm, G.; Müllejans, H.; Brydson, R.; Rühle, M.: Electron Energy-Loss Near-Edge Structure of Metal-Alumina Interfaces. Microscopy Microanalysis Microstructures 6 (1), S. 19 - 31 (1995)

Buch (1)

  1. 250.
    Buch
    Dehm, G.; Zweck, J.: In-situ Electron Microscopy: Applications in Physics, Chemistry and Materials Science. Wiley VCH Verlag, Weinheim, Germany (2012)

Buchkapitel (7)

  1. 251.
    Buchkapitel
    Kirchlechner, C.; Kečkéš, J.; Micha, J.-S.; Dehm, G.: In Situ μLaue: Instrumental Setup for the Deformation of Micron Sized Samples. In: Neutrons and Synchrotron Radiation in Engineering Materials Science: From Fundamentals to Applications: Second Edition, S. 425 - 438 (Hg. Staron, P.; Schreyer, A.; Clemens, H.; Mayer, S.). wiley, Hoboken, NJ, USA (2017)
  2. 252.
    Buchkapitel
    Dehm, G.; Legros, M.; Kiener, D.: In-situ TEM Straining Experiments: Recent Progress in Stages and Small-Scale Mechanics. In: In-situ Electron Microscopy: SEM and TEM Applications in Physics, Chemistry and Materials Science, S. 227 - 254 (Hg. Dehm, G.). Wiley VCH Verlag, Weinheim, Germany (2012)
  3. 253.
    Buchkapitel
    Dehm, G.: Das Erich-Schmid-Institut für Materialwissenschaft (ESI) der Österreichischen Akademie der Wissenschaften. In: Handbuch der Nanoanalytik Steiermark, NanoNet Styria, 1 Aufl., S. 1 - 311 (Hg. Rom , W.). W. Rom, Graz, Austria (2005)
  4. 254.
    Buchkapitel
    Motz, C.; Kiener, D.; Schöberl, T.; Pippan, R.; Dehm, G.: Sekundärionen-Massenspektroskopie (SIMS) mittels FIB. In: Handbuch der Nanoanalytik Steiermark, NanoNet Styria, 1 Aufl., S. 1 - 311 (Hg. Rom, W.). W. Rom, Graz, Austria (2005)
  5. 255.
    Buchkapitel
    Motz, C.; Kiener, D.; Schöberl, T.; Pippan, R.; Dehm, G.: Fokussierte Ionenstrahl-Technik (FIB) in der Mikro- und Nanomechanik. In: Handbuch der Nanoanalytik Steiermark, NanoNet Styria, 1 Aufl., S. 1 - 311 (Hg. Rom, W.). W. Rom, Graz, Austria (2005)
  6. 256.
    Buchkapitel
    Pippan, R.; Vorhauer, A.; Wetscher, F.; Dehm, G.: Nanokristallisierung durch Hochverformung. In: Handbuch der Nanoanalytik Steiermark, NanoNet Styria, 1 Aufl., S. 1 - 311 (Hg. Rom, W.). W. Rom, Graz, Austria (2005)
  7. 257.
    Buchkapitel
    Dehm, G.; Müllner, P.: TEM-Observation of Dislocations in Polycrystalline Metal Films. In: The Encyclopedia of Materials: Science and Technology, Bd. 1, S. 2329 - 2331 (Hg. Buschow, .H.J.; Cahn, R.; Flemings, M.; Ilschner, .; Kramer, E. et al.) (2001)

Konferenzband (1)

  1. 258.
    Konferenzband
    Microstructure of Ni2B Laser-Induced Surface-Alloyed α-Fe (Materials Resaerch Symposium Proceedings, Phase Transformations and Systems Driven far from Equilibrium, 481). MRS Fall Meeting´97, Boston, MA, USA. (2001)

Konferenzbeitrag (67)

  1. 259.
    Konferenzbeitrag
    Luo, W.; Kirchlechner, C.; Dehm, G.; Stein, F.: Deformation of Micropillars of Cubic and Hexagonal NbCo2 Laves Phases under Uniaxial Compression at Room Temperature. In: Proc. Intermetallics 2017, S. 199 - 200 (Hg. Heilmaier, M.; Krüger, M.; Mayer, S.; Palm, M.; Stein, F.). Intermetallics 2017, Educational Center Kloster Banz, Bad Staffelstein, Germany, 02. Oktober 2017 - 06. Oktober 2017. Conventus Congressmanagement & Marketing GmbH, Jena, Germany (2017)
  2. 260.
    Konferenzbeitrag
    Hieke, S. W.; Willinger, M. G.; Wang, Z.-J.; Richter, G.; Dehm, G.; Scheu, C.: In situ electron microscopy – insights in solid state dewetting of epitaxial Al thin films on sapphire. In: Microscopy Conference 2017 (MC 2017) - Proceedings (Hg. Laue, M.). Microscopy Conference 2017 (MC 2017), Lausanne, Switzerland, 21. August 2017 - 25. August 2017. Universität Regensburg, Regensburg (2017)
 
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