Was passiert bei Materialfehlern auf atomarer Ebene?

Video mit Christian Liebscher über neueste Forschungsergebnisse

Da Materialfehler oft die Lebensdauer und Sicherheit elektronischer Geräte beeinträchtigen, ist ein Blick auf die atomare Struktur entscheidend.

Christian Liebscher ist Forschungsgruppenleiter am MPIE und nutzt die Transmissionselektronenmikroskopie, um die kristallinen Strukturen und Korngrenzen in Materialien zu untersuchen. Seine Forschungsergebnisse liefern wichtige Erkenntnisse für die Entwicklung effizienter und sicherer elektronischer Geräte.

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Thorsten Meiners, Timofey Frolov, Robert E. Rudd, Gerhard Dehm, and Christian Liebscher, "Observations of grain-boundary phase transformations in an elemental metal," Nature 579 (7799), 375-378 (2020).

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