Analyse von gefrorenem Wasser auf atomarer Ebene

Ein Durchbruch in der Materialwissenschaft

Wie kann man Eis auf atomarer Ebene analysieren? Und wie lassen sich in Eis eingebettete Objekte untersuchen, ohne das Eis zu schmelzen? Ein internationales Team von Materialwissenschaftlern, hauptsächlich vom Max-Planck-Institut für Eisenforschung (MPIE), hat nun einen Weg gefunden, wie sich Eisschichten mit Hilfe der Atomsonden-Tomographie auf Mikroebene analysieren lassen. Dr. Ayman El-Zoka, Dr. Se-Ho Kim, Dr. Leigh Stephenson und Dr. Baptiste Gault aus der Gruppe "Atomsondentomographie“ am MPIE haben ihre aktuellen Ergebnisse mit Kolleginnen und Kollegen der Université de Lyon (Frankreich) und der University of Toronto (Kanada) in der Zeitschrift Science Advances veröffentlicht. Das Team entwickelte dafür eine neue Technik, die die mangelnde elektrische Leitfähigkeit von Eis umgeht und auch dessen Mikrostruktur nicht beeinflusst.

Weitere Informationen zur Publikation können Sie der englischen Pressemeldung entnehmen.