Auszeichnung

Dr. Stefan Hieke mit Stipendium der European Microscopy Society ausgezeichnet

7. November 2018

Dr. Stefan Hieke, Gewinner eines Stipendiums der europäischen Mikroskopiegesellschaft und ausgewählter Teilnehmer der Young Scientist Assembly, einem Treffen junger Wissenschaftlerinnen und Wissenschaftler mit Nobelpreisträgern und Experten des jeweiligen Fachgebiets. Bild vergrößern
Dr. Stefan Hieke, Gewinner eines Stipendiums der europäischen Mikroskopiegesellschaft und ausgewählter Teilnehmer der Young Scientist Assembly, einem Treffen junger Wissenschaftlerinnen und Wissenschaftler mit Nobelpreisträgern und Experten des jeweiligen Fachgebiets. [weniger]

Stefan Hieke, wissenschaftlicher Mitarbeiter in der Gruppe Nanoanalytik und Grenzflächen, erhielt von der European Microscopy Society eines von 24 Stipendien in Höhe von 900€ für die Teilnahme am 19th International Microscopy Congress (IMC19) in Sydney, Australien. Dies ermöglichte die Präsentation seiner jüngsten Forschungsergebnisse über das Festphasenentnetzungsverhalten von Aluminiumdünnschichten auf der größten, vierjährlichen Mikroskopiekonferenz mit 2000 teilnehmenden Wissenschaftlern. Die Studie wurde zusammen mit Wissenschaftlern des Fritz-Haber-Instituts der Max-Planck-Gesellschaft in Berlin, des French National Centre for Scientific Research, Marseille und des Max-Planck-Instituts für Intelligente Systeme, Stuttgart durchgeführt. Das Aufbrechen eines 50 nm dünnen Aluminiumfilmes unterhalb einer 4 nm dünnen Oxidschicht unterhalb der Schmelztemperatur von Aluminium wurde erstmals in einem Rasterelektronenmikroskop in situ beobachtet. Die Studie ermöglicht die Untersuchung der Dynamik der involvierten Prozesse und liefert Erkenntnisse für die Stabilität von Dünnschichtsystemen in diversen Anwendungsfeldern wie Mikroelektronik oder Optik.

Stefan Hieke unter den Teilnehmern des Young Scientist Assembly, University of Sydney Bild vergrößern
Stefan Hieke unter den Teilnehmern des Young Scientist Assembly, University of Sydney

Dr. Stefan Hieke wurde zusätzlich als einer der nur 50 Teilnehmer der Young Scientist Assembly der International Federation of Societies for Microscopy ausgewählt und erhielt die Möglichkeit sich mit führenden Experten, Nobelpreisträgern (Prof. Joachim Frank und Prof. Dan Shechtman) und Nachwuchswissenschaftlern aus verschiedenen Bereichen der Mikroskopie im Rahmen eines zweitätigen Vorprogramms der Konferenz auszutauschen und sein wissenschaftliches Netzwerk auszubauen.

1.
Hieke, S. W., Willinger, M. G., Wang, Z.-J., Richter, G., Chatain, D., Dehm, G., Scheu, C.
On pinning-depinning and microkink-flow in solid state dewetting: Insights by in-situ ESEM on Al thin films
 
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