Dehm, G.; Balk, T. J.; von Blanckenhagen, B.; Gumbsch, P.; Arzt, E.: Dislocation dynamics in sub-micron confinement: recent progress in Cu thin film plasticity. Zeitschrift für Metallkunde/Materials Research and Advanced Techniques 93 (5), S. 383 - 391 (2002)
Max-Planck-Team erklärt Rissbildung während des Ladevorgangs und ebnet so den Weg zu sichereren und langlebigeren Batterien. Das Team veröffentlicht seine Ergebnisse im Wissenschaftsjournal Nature.