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Zeitschriftenartikel
Abboud, A.; Kirchlechner, C.; Kečkéš, J.; Çonka-Nurdan, T.; Send, S.; Micha, J.-S.; Ulrich, O.; Hartmann, R.; Strüderf, L.; Pietsch, U.: Single-shot full strain tensor determination with microbeam X-ray Laue diffraction and a twodimensional energy-dispersive detector. Journal of Applied Crystallography 50 (3), S. 901 - 908 (2017)
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