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Zeitschriftenartikel
Vaxelaire, N.; Proudhon, H.; Labat, S.; Kirchlechner, C.; Kečkéš, J.; Jacques, V.; Ravy, S.; Forest, S.; Thomas, O.: Methodology for studying strain inhomogeneities in polycrystalline thin films during in situ thermal loading using coherent x-ray diffraction. New Journal of Physics 12, 035018, S. 1 - 12 (2010)
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