![Grenzflächenchemie und Oberflächentechnik Grenzflächenchemie und Oberflächentechnik](/3168254/header_image-1424700584.jpg?t=eyJ3aWR0aCI6ODQ4LCJmaWxlX2V4dGVuc2lvbiI6ImpwZyIsIm9ial9pZCI6MzE2ODI1NH0%3D--cc97b2c2202e8665e8175d123940558d6dd2df4b)
Publikationen von Nikolay N. Tolkachev
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Zeitschriftenartikel (4)
1.
Zeitschriftenartikel
49 (43), S. 8037 - 8041 (2010)
Anomalous surface compositions of stoichiometric mixed oxide compounds. Angewandte Chemie International Edition 2.
Zeitschriftenartikel
122, S. 8212 - 8216 (2010)
Anomale Oberflächenzusammensetzung stöchiometrischer Mischoxid-Verbindungen. Angewandte Chemie 3.
Zeitschriftenartikel
602 (23), S. 3634 - 3635 (2008)
Reply to a comment of J. Zemek, Prague, regarding the paper "resolving the depth coordinate in photoelectron spectroscopy - comparison of excitation energy variation vs. angular-resolved XPS for the analysis of a self-assembled monolayer model system" Discussion. Surface Science 4.
Zeitschriftenartikel
602 (3), S. 755 - 767 (2008)
Resolving the depth coordinate in photoelectron spectroscopy – Comparison of excitation energy variation vs. angular-resolved XPS for the analysis of a self-assembled monolayer model system. Surface Science Vortrag (1)
5.
Vortrag
Quantitative Tiefenprofilierung durch XPS – Ein neuer Ansatz in der Oberflächenanalyse realer Materialien. 49.Jahrestreffen Deutscher Katalytiker, DECHEMA, 2007, Weimar, Germany (2007)
Poster (1)
6.
Poster
Further development of depth differentiation X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). 39.Jahrestreffen Deutscher Katalytiker, DECHEMA, 2006, Weimar, Germany (2006)