Auszeichnungen auf internationaler Konferenz zu Mikroskopie und Mikroanalyse

Drei Doktoranden aus der Abteilung „Mikrostrukturphysik und Legierungsdesign“ am Max-Planck-Institut für Eisenforschung (MPIE) wurden auf der diesjährigen Konferenz für Mikroskopie und Mikroanalyse  „Microscopy and Microanalysis Meeting“ (M&M), die vom 6. bis 9. August in St. Louis, USA, stattfand, mit verschiedenen Preisen ausgezeichnet. Philipp Kürnsteiner, Doktorand in der Gruppe „Legierungen für additive Fertigung“ gewann den M&M Student Paper Award 2017, der jährlich durch die „Microanalysis Society“ an Studenten vergeben wird. Shyam Katnagallu und Zirong Peng, zwei Doktoranden aus der Gruppe „Atomsondentomografie“, wurden mit dem IFES Student Award der „International Field Emission Society“ ausgezeichnet. Die Preise sind jeweils mit 1.000 US-Dollar zur Deckung der Reisekosten und Konferenzgebühr dotiert und sollen jungen Wissenschaftlern ermöglichen, ihre Arbeit vor einem Fachpublikum zu präsentieren. Des Weiteren gewann Peng einen Posterpreis für ihr Poster über die hochauflösende Analyse der Diffusion, Segregation und Abscheidung von Korngrenzen.

Die M&M ist eine jährlich stattfindende Fachtagung, die von der Microscopy Society of America, der Microanalysis Society und, zum ersten Mal auch von der International Field Emission Society anlässlich des 50. Geburtstages der Atomsondentomographie, gesponsert wurde. Die Atomsondentomographie ist eine Methode mit der kleinste Materialproben bis auf ihre atomare Struktur untersucht werden, um Zusammenhänge zwischen der Struktur und den Eigenschaften des Materials aufzudecken und so neue Materialien zu entwickeln. Auf der Konferenz waren drei Symposien der Atomsondentomographie gewidmet und beinhalteten Beiträge von Pionieren dieser Analysetechnik. Das MPIE war mit fünf Beiträgen vertreten. Dr. Baptiste Gault, Leiter der Gruppe „Atomsondentomografie“ am MPIE, war zudem Vorsitzender eines der Symposien.